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IC仿真卡

   

本实用新型公开了一种IC仿真卡,包括基片和镶嵌在基片或附在基片上的对应于集成电路芯片的电触点,所述的电触点中包括对应于集成电路的供电电源触点C1和信号地触点C5,特点为在基片中的触点C1和触点C5中至少有一触点有引信号线,在基片中的其它对应于集成电路的电触点包括上述基片中的触点C1和触点C5中未引信号线的触点,至少再有一触点有引信号线。因而能方便地用于IC卡仿真及IC卡外部接口设备性能检测。全文下载 专利附图

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